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电磁兼容性检测中脉冲群抗扰度测试的参数设置

三方检测单位 2019-01-03

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脉冲群抗扰度测试(依据GB/T 17626.4等标准)是电磁兼容性(EMC)检测中评估设备抵御重复性脉冲干扰的核心项目。实际场景中,电力线的开关操作、电子设备内部的信号耦合或静电放电后的残留脉冲,都可能以“脉冲群”形式干扰受试设备(EUT)的正常工作——轻则导致数据乱码、功能卡顿,重则引发硬件损坏。测试参数的精准设置直接决定结果的可靠性:若电压等级选错,可能高估或低估设备抗扰能力;若波形参数失真,又会让测试失去参考价值。本文围绕脉冲群测试的关键参数展开,结合标准要求与实操经验,拆解每一项参数的设置逻辑。

脉冲电压与电平的分级设置

脉冲电压是衡量干扰强度的核心指标,需根据受试设备的工作电压、端口类型及标准要求选择。以GB/T 17626.4为例,标准将脉冲电压分为4个等级:共模(相线对地线)为0.5kV、1kV、2kV、4kV;差模(相线之间)为0.25kV、0.5kV、1kV、2kV。选择依据首先是受试设备的额定工作电压——比如220V交流设备,电源端口通常选1kV(共模)、0.5kV(差模);而12V直流设备(如车载电子),可能仅需0.5kV共模。

需注意“开路电压”与“短路电流”的区别:脉冲发生器的输出参数分开路电压(Voc)和短路电流(Isc),比如Voc=1kV、Isc=2A,对应负载阻抗500Ω(R=Voc/Isc)。测试时需根据受试设备的端口负载调整:若EUT端口是高阻抗(如CMOS电路),则用开路电压;若低阻抗(如功率电路),则用短路电流,确保干扰强度符合标准。

此外,受试设备的敏感度也是调整电压的关键——比如医疗设备(如监护仪)对干扰更敏感,需选择更高的电压等级(如2kV共模),而工业控制器(如PLC)因设计时已考虑抗干扰,可按常规等级测试。

脉冲重复频率的选择逻辑

脉冲重复频率指单位时间内脉冲的数量,标准中常见5kHz、100kHz两个选项。频率的选择需匹配实际干扰场景:5kHz对应电力线中的周期性干扰(如电机启动、继电器动作时的电流突变),这类干扰频率低、能量大,易影响电源电路;100kHz对应电子设备内部的高频耦合(如PCB板上的信号线串扰、开关电源的EMI),高频脉冲含更多高频分量,更容易耦合到敏感电路(如单片机的时钟引脚)。

需注意频率对测试结果的影响:高频脉冲(100kHz)的上升时间更快,更容易通过电容耦合到设备内部,若受试设备的信号电路未做屏蔽,100kHz脉冲可能导致数据通信错误;而5kHz脉冲更易通过电感耦合到电源电路,引发电源波动。因此,测试时需根据EUT的敏感电路类型选择频率——比如测试通信端口(如RS485),优先选100kHz;测试电源端口,优先选5kHz。

上升时间与脉冲宽度的校准要求

上升时间(Tr)和脉冲宽度(Td)是定义脉冲波形的关键参数,直接影响干扰的“尖锐度”与能量分布。GB/T 17626.4规定:Tr=1.2ns±30%,Td=50ns±30%(从脉冲幅值的10%到90%计算)。若波形失真(如Tr延长至2ns、Td缩短至35ns),会导致干扰的高频分量减少,测试结果偏乐观——比如原本能触发设备重启的脉冲,因Tr变慢,可能无法达到干扰效果。

校准方法需严格遵循标准:用50Ω负载匹配脉冲发生器的输出,示波器探头采用1:10衰减(避免负载影响波形),测量脉冲的Tr和Td。若波形不符合要求,需调整脉冲发生器的内部电路(如调整电容、电感参数),或更换发生器。

需注意:不同的负载会影响波形——比如用高阻抗负载(如1MΩ)测量,Tr会变长,因此必须用标准负载(50Ω)校准,确保波形参数准确。

脉冲极性的确定与测试必要性

脉冲极性分正脉冲(电压高于参考地)和负脉冲(电压低于参考地),两者都需测试——实际干扰中,正负脉冲均可能出现:电源线上的浪涌(如雷击)多为正脉冲,而静电放电后的残留脉冲(如人体带负电放电)多为负脉冲。

极性对设备的影响差异显著:比如二极管的正向导通对正脉冲有钳位作用(将电压限制在0.7V左右),但反向击穿对负脉冲更敏感——若EUT中的整流二极管未做反向保护,负脉冲可能导致二极管击穿,进而损坏电路。因此,仅测试正脉冲会遗漏负脉冲的风险,必须两种极性都覆盖。

测试顺序通常是先测正脉冲,再测负脉冲,每次测试后让EUT恢复正常,避免极性叠加影响结果。

注入方式与耦合/去耦网络的匹配

注入方式分共模(Common Mode,CM)和差模(Differential Mode,DM):共模是所有相线对地线注入干扰,模拟相线与地线之间的电压差;差模是相线之间注入干扰,模拟信号线或相线之间的电压差。

选择注入方式需匹配端口类型:电源端口(如AC 220V)的干扰多为共模,因相线与地线之间的阻抗大,易耦合干扰;信号端口(如RS232、以太网)的干扰多为差模,因信号线之间的电压差小,干扰更易以差模形式耦合。

耦合/去耦网络(Coupling/Decoupling Network,CDN)是实现注入的关键器件,其阻抗需与EUT端口阻抗匹配:比如电源端口用三相CDN,阻抗500Ω(匹配电力线阻抗);信号端口用耦合夹,阻抗50Ω(匹配射频电路阻抗)。若阻抗不匹配(如CDN是250Ω,EUT是50Ω),会导致脉冲反射——实际到达EUT的电压仅为发生器输出的1/5,无法达到测试要求。

去耦网络的作用是隔离未测试端口:比如测试电源端口时,去耦网络阻止干扰耦合到信号端口,避免干扰通过信号端口“逃逸”,确保测试结果仅反映电源端口的抗扰度。

试验时间与循环次数的控制

试验时间指每个注入点的测试时长,GB/T 17626.4规定为1分钟——这是模拟设备在持续干扰下的工作状态,若EUT能在1分钟的脉冲干扰下保持正常(如显示器不闪屏、数据不丢失),说明抗扰度合格。

循环次数指同一参数下的重复测试次数,通常为3次——目的是验证结果的重复性:若3次测试中2次合格、1次不合格,说明EUT的抗扰度不稳定,需排查原因(如电路设计存在短板);若3次均合格,结果才有效。

需注意,试验时间可根据EUT的工作模式调整:若EUT是短时工作(如手电筒),可缩短至30秒,但需在测试报告中说明;若EUT是24小时运行(如服务器),可延长至5分钟,确保长期稳定性。

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