电磁兼容性检测中辐射骚扰测试的环境场地要求

辐射骚扰测试是电磁兼容性（EMC）检测的核心项目，旨在评估电子设备向空间发射的电磁能量是否超出限值，避免干扰其他设备正常工作。而测试环境场地的设计与性能直接决定结果的准确性——不合适的场地会引入外界干扰、反射信号或系统误差，导致误判。因此，明确辐射骚扰测试的环境场地要求，是保证EMC检测公正性和重复性的基础。

辐射骚扰测试对环境场地的核心诉求

辐射骚扰测试的本质是测量设备在正常工作时的空间电磁辐射，场地需满足三个核心条件：无外界干扰（避免周围电磁源耦合信号）、可重复的环境（保证不同实验室结果一致）、模拟实际场景（还原地面反射等真实环境）。这三个条件缺一不可——若有外界干扰，测试结果会混淆设备辐射与背景信号；若环境不可重复，同一设备的测试数据会差异巨大；若无法模拟实际场景，结果则无法反映设备的真实干扰风险。

例如，某款空调在户外开阔场测试时辐射达标，但在半电波暗室中因反射信号叠加导致结果超标，说明场地未模拟实际地面反射；若某实验室的背景噪声比限值高3dB，测试结果会误判设备超标，需优化场地屏蔽才能修正。

开阔试验场的结构与环境要求

开阔试验场（OATS）是最传统的辐射测试场地，核心是“接地反射平面”——需用2mm厚镀锌钢板铺成至少10m×10m的区域，边缘向外延伸2m以消除边缘效应。反射面需单点接地，接地电阻≤4Ω，防止静电积累。

OATS的天线与EUT需满足远场条件：测试距离（EUT到天线）通常为3m、5m或10m，天线高度在1-4m可调，EUT置于反射面中心，距边缘≥测试距离的1.5倍（如3m法时≥4.5m）。场地周围需无高大建筑、高压线路（距场地≥2倍测试距离），避免反射干扰。

OATS的优势是还原真实地面反射，但受天气、外界干扰影响大，仅适合户外设备或低精度测试。

半电波暗室的设计与性能要求

半电波暗室（SAC）是当前主流场地，通过屏蔽室+吸波材料消除外界干扰与反射。屏蔽室需用双层2mm冷轧钢板焊接，焊缝密封，1GHz时屏蔽效能≥80dB（CISPR 16-1-4要求），防止外界信号进入。

吸波材料需匹配频率：低频（30MHz-200MHz）用1m长尖锥吸波材料（反射损耗≥20dB），高频（200MHz以上）用50mm厚平板吸波材料。暗室尺寸需满足远场：3m法暗室长度≥8m、宽度≥6m、高度≥4m，确保EUT与天线的远场距离。

场地均匀性需校准：用标准偶极子天线在EUT区域（1m×1m×1m）测量，电压驻波比（VSWR）≤1.5，确保电场分布均匀。SAC不受环境影响，重复性高，适合绝大多数电子设备测试。

场地电性能的校准规范

场地需定期校准以保证准确性，核心是场地系数、天线系数与均匀性校准。场地系数校准用标准源（如CISPR偶极子）置于EUT位置，测量接收信号，误差≤±2dB；天线系数需按IEC 61000-4-20校准，确保增益与极化准确。

场地均匀性校准是关键：在EUT区域沿X/Y/Z轴移动天线（步长0.5m），电场变化≤3dB（CISPR要求），否则需调整吸波材料或屏蔽结构。校准周期为每年1次，改造后需重新校准。

环境背景噪声的控制要求

背景噪声需比EUT限值低6dB以上（CISPR 16-1-4），测量方法是关闭EUT，测天线接收的最大信号。若超标需排查：外界干扰则增强屏蔽，内部干扰（如电源）则换滤波器，吸波老化则更换材料。

需覆盖全测试频段（如30MHz-1GHz），尤其注意FM广播（87-108MHz）等高频段，需单独验证余量。

EUT与天线的摆放要求

EUT需置于反射面中心，用绝缘支架支撑（高度0.8-1.5m，如桌面设备0.8m、落地设备1.2m），电源线用双屏蔽电缆（长度≤2m）。天线需在测试距离处，高度与EUT齐平，切换垂直/水平极化，EUT需360度旋转（步长15度）、天线垂直移动（步长0.5m），记录最大辐射——这是因为设备辐射有方向性，需找到最大值才准确。

场地辅助设施的电磁兼容要求

辅助设施需符合EMC：电源装EMI滤波器（插入损耗≥60dB，100kHz-1GHz），插座远离EUT/天线（≥2m）；接地系统单点接地（电阻≤4Ω），避免接地环路；照明用低辐射LED灯（≤20dBμV/m），远离天线（≥3m）并屏蔽。

场地需清洁：吸波材料定期吸尘（防静电吸尘器），密封胶条老化及时更换，确保性能稳定。