半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
基础信息
标准号:GB/T 7581-1987发布日期:1987-03-27实施日期:1987-11-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:修订标准类别:基础中国标准分类号:L42国际标准分类号:31.080 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会主管部门:工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准非等效采用IEC国际标准:IEC 191-2:1974。采标中文名称:。
起草单位
电子部标准所
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