半导体集成电路微处理器空白详细规范 （可供认证用）

基础信息

标准号：GB/T 7509-1987发布日期：1987-03-25实施日期：1987-11-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：修订标准类别：产品中国标准分类号：L56国际标准分类号：35.160 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 47A(sec)153:1985。采标中文名称:。

起草单位

集成电路标委会微机工作组

相近标准(计划)

GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范 （可供认证用）20233714-T-339 脉冲调制管空白详细规范（可供认证用）20233715-T-339 工业加热三极管空白详细规范（可供认证用）20233719-T-339 工业加热四极管空白详细规范（可供认证用）GB/T 6648-1986 半导体集成电路静态读/ 写存储器空白详细规范（可供认证用）GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范（可供认证用）

相关服务热线： 如需《GB/T 7509-1987》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。