国标依据

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半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

Letter symbols for semiconductor integrated circuits--Letter symbols for function of pins

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 3431.2-1986发布日期:1986-07-01实施日期:1987-04-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:修订标准类别:基础中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

全国集成电路标委会

相近标准(计划)

20233682-T-339 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号20233681-T-339 半导体分立器件文字符号GB/T 11499-2001 半导体分立器件文字符号EJ/T 1050-1997 核仪器图形符号、文字代号和参数符号EJ/T 1050-2012 核仪器图形符号、文字代号和参数符号JB 5872-1991 高压开关设备电气图形符号及文字符号SJ/T 10554-1994 敏感元器件 文字符号CB/T 3713-1995 船舶电气设备文字符号CB/T 743-1999 船舶设计常用文字符号CB/T 743-2004 船舶设计常用文字符号

相关服务热线: 如需《GB/T 3431.2-1986》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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