电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
基础信息
标准号：GB/T 5594.2-1985发布日期：1985-11-27实施日期：1986-12-01上次复审日期：2025-07-01上次复审结论：修订标准类别：方法中国标准分类号：L32归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
天津大学
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