国标依据

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LED外延芯片用砷化镓衬底

GaAs substrates for LED epitaxial chips

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 30856-2025发布日期:2025-08-01实施日期:2026-02-01全部代替标准:GB/T 30856-2014标准类别:产品中国标准分类号:H 83国际标准分类号:29.045 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

南京集溢半导体科技有限公司广东先导微电子科技有限公司山东浪潮华光光电子股份有限公司北京大学东莞光电研究院大庆溢泰半导体材料有限公司深圳市冠科科技有限公司中山德华芯片技术有限公司全磊光电股份有限公司云南鑫耀半导体材料有限公司中国科学院半导体研究所易事达光电(广东)股份有限公司广东中阳光电科技有限公司

起草人

赵中阳郑红军刘建庆孙雪峰林作亮刘强赵春锋彭璐陈皇冯佳峰于会永张双翔闫宝华马金峰赵有文徐宝洲兰庆

相近标准(计划)

20243065-T-469 激光器外延芯片用砷化镓衬底GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底YS/T 1744-2025 半绝缘砷化镓单晶衬底片SJ/T 11758-2020 液晶显示背光组件用LED芯片性能规范DB1404/T 20─2021 消毒用UVC LED芯片 规格分类20240143-T-469 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的测试 红外反射法GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法SJ/T 11868-2022 硅衬底蓝光功率发光二极管芯片详细规范

相关服务热线: 如需《GB/T 30856-2025》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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