半导体晶片直径测试方法

基础信息

标准号：GB/T 14140-2025发布日期：2025-08-01实施日期：2026-02-01全部代替标准：GB/T 14140-2009,GB/T 30866-2014标准类别：方法中国标准分类号：H17国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

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起草人

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相近标准(计划)

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