国标依据

国标依据

服务热线:

碳化硅单晶片微管密度测试方法

Test method for micropipe density of monocrystalline silicon carbide

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 30868-2025发布日期:2025-08-01实施日期:2026-02-01全部代替标准:GB/T 30868-2014,GB/T 31351-2014标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门:国家标准委

起草单位

中国电子科技集团公司第四十六研究所山东天岳先进科技股份有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司浙江晶瑞电子材料有限公司湖州东尼半导体科技有限公司浙江材孜科技有限公司中电晶华(天津)半导体材料有限公司河南中宜创芯发展有限公司宁波合盛新材料有限公司北京天科合达半导体股份有限公司广东天域半导体股份有限公司安徽长飞先进半导体股份有限公司南京盛鑫半导体材料有限公司长飞光纤光缆股份有限公司连科半导体有限公司上海优睿谱半导体设备有限公司哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司厦门中芯晶研半导体有限公司

起草人

姚康许蓉王英明张红岩李素青刘小平晏阳王志勇李明达张超越赵新田陈基生佘宗静何烜坤齐菲丁雄杰欧阳鹏根潘文宾王明华胡润光孙毅赵丽丽

相近标准(计划)

GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法GB/T 32278-2025 碳化硅单晶片厚度和平整度测试方法GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法GB/T 34520.3-2017 连续碳化硅纤维测试方法第3部分:线密度和密度20250729-T-469 碳化硅晶片表面杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

相关服务热线: 如需《GB/T 30868-2025》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

热门服务

关于微析院所

ABOUT US WEIXI

微析·国内大型研究型检测单位

微析研究所总部位于北京,拥有数家国内检测、检验(监理)、认证、研发单位,1家欧洲(荷兰)检验、检测、认证机构,以及19家国内分支机构。微析研究所拥有35000+平方米检测实验室,超过2000人的技术服务团队。

业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

十多年的专业技术积累

服务众多客户解决技术难题

服务众多客户解决技术难题

每年出具十余万+份技术报告

每年出具十余万+份报告

2500+名专业技术人员

2500+名专业技术人员

微析·国内大型研究型检测单位
首页 领域 范围 电话