表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序
Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
基础信息
标准号:GB/T 45770-2025发布日期:2025-06-30实施日期:2026-01-01标准类别:方法中国标准分类号:G 04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 13095:2014。采标中文名称:表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序。
起草单位
上海交通大学上海大学吉林大学上海市计量测试技术研究院中国计量科学研究院南京景曜智能科技有限公司
起草人
沈轶孙洁林胡钧李适蔡潇雨李源马志超王春梅
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