国标依据

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印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化

Test method for printed board—Monitoring of single plated-through hole(PTH) resistance change during temperature cycling

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 45723-2025发布日期:2025-05-30实施日期:2025-12-01标准类别:方法中国标准分类号:L30国际标准分类号:31.180 归口单位:全国印制电路标准化技术委员会执行单位:全国印制电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准修改采用IEC国际标准:IEC 61189-3-719:2016。采标中文名称:电子材料、印制板和其他互联结构和组件的测试方法第3-719部分:互连结构(印制板)测试方法检测温度循环状态下镀覆孔单孔电阻变化。

起草单位

麦可罗泰克(常州)产品服务有限公司生益电子股份有限公司天长市京发铝业有限公司无锡市同步电子科技有限公司中国电子技术标准化研究院

起草人

张盘新何瑜曹易俞金法唐鹏任尧儒

相近标准(计划)

DB34/T 3367-2019 印制电路板镀覆孔热应力的测试方法JB/T 7900-1995 高电阻电热合金电阻随温度变化的试验方法JB/T 7900-2002 高电阻电热合金电阻随温度变化试验方法GB/T 6148-2005 精密电阻合金电阻温度系数测试方法GB/T 6148-2025 精密电阻合金电阻温度系数测试方法GB/T 19687-2005 闭孔塑料长期热阻变化的测定实验室加速测试方法DB1310/T 355-2024 地热单孔循环取热系统技术规程20233945-T-610 硅片径向电阻率变化测量方法20253281-T-469 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化DB3411/T 0054-2024 《数显热电阻温度变送器射频电磁场测试方法》

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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