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车载电子系统验证过程中硬件组件在振动冲击环境下的可靠性测试

三方检测单位 2021-03-24

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随着车载电子系统向智能化、集成化演进,ADAS传感器、座舱域控制器、动力系统ECU等硬件组件的可靠性直接关联车辆安全。而车辆行驶中的振动冲击(如路面颠簸、急刹、碰撞)是诱发硬件失效的核心环境因素——焊球开裂、连接器松动、元件脱焊等问题,可能导致自动驾驶功能异常、动力中断等风险。因此,在车载电子系统验证中,针对硬件组件的振动冲击可靠性测试,是确保其在全生命周期内稳定工作的关键环节。本文将从实际环境、测试标准、流程及失效分析等方面,详细拆解这一测试过程。

车载硬件面临的振动冲击环境实际来源

车载硬件的振动冲击环境直接源于车辆使用场景:路面因素是最常见的激励源——鹅卵石路、井盖、减速带会引发宽频率的随机振动;急加速/急刹产生的惯性力,会对硬件造成沿车身纵向的冲击;碰撞事故则会带来瞬间高加速度的冲击(如追尾时的50g以上加速度)。不同安装位置的硬件,承受的振动冲击特性差异显著:发动机舱的ECU需应对高温(125℃以上)+高频(50-2000Hz)+高加速度(10g)的振动;座舱内的车机则以低频(10-500Hz)、低加速度(2-5g)振动为主,但需兼顾静音要求;底盘的激光雷达,因直接接触路面,会承受15g以上的持续振动。

例如,某款安装在发动机舱的燃油喷射ECU,在实际道路测试中频繁出现喷油信号中断,后续实验室振动测试发现,其连接器引脚因高频振动产生微位移,导致接触电阻增大——这正是因为ECU所处环境的振动频率与连接器的固有频率共振,放大了振动响应。

振动冲击测试的核心标准体系

车载硬件的振动冲击测试需遵循成熟的标准体系,确保测试的客观性与可比性。最常用的标准包括:ISO 16750-3《道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第3部分:机械载荷》,该标准是车载电子测试的“黄金准则”,根据硬件安装位置划分Class 1(乘客舱)、Class 2(行李舱)、Class 3(发动机舱)、Class 4(底盘)四个等级,明确了振动的频率范围(如Class 3为10-2000Hz)、加速度幅值(随机振动PSD为0.08g²/Hz)及持续时间(2小时);SAE J1455《商用车振动测试标准》,针对货车、客车的底盘与动力系统硬件,强调长时随机振动测试(如持续8小时),模拟长途运输中的疲劳损伤;国内标准GB/T 28046-3《道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第3部分:机械载荷》,等效采用ISO 16750-3,适用于国内车型的公告认证。

这些标准的价值在于统一测试条件——比如同一台Class 3的ECU,无论在德国还是中国的实验室测试,都需遵循相同的振动谱,确保结果可对比。

测试前的硬件与工装准备

测试前的准备直接影响结果的有效性。首先是硬件状态确认:被测硬件(DUT)需处于量产状态——带完整外壳、原车连接器与线缆,且需通电并模拟实际工作负载(如给ECU输入油门踏板信号,给摄像头输入电源与视频信号)。若DUT未处于工作状态,可能无法触发真实的失效模式(如焊球开裂需电流通过时的热应力叠加振动应力)。

其次是夹具设计:夹具需与DUT的原车安装接口完全一致(如用原车的螺栓固定ECU),且刚度需足够——夹具的模态频率需高于测试频率上限的1.5倍(如测试频率到2000Hz,夹具模态需在3000Hz以上),避免夹具共振放大振动。例如,某款车机的测试夹具因采用塑料材质,模态频率仅1500Hz,导致测试中夹具振动幅值超过车机的要求,需改用铝合金夹具并增加加强筋,将模态频率提升至3500Hz。

最后是传感器布置:加速度传感器(压电式或MEMS)需用氰基丙烯酸酯胶粘贴在DUT的关键部位——如PCB板中心(测整体振动)、连接器引脚(测局部应力)、电容/电感元件旁(测元件级振动)。传感器的量程需覆盖测试加速度的1.5倍(如测试加速度10g,传感器量程选15g),避免过载。

振动测试的类型与实施逻辑

振动测试主要分为正弦振动与随机振动两类,对应不同的失效机理。正弦振动模拟周期性共振工况(如发动机的固有频率),采用扫频方式:从10Hz到2000Hz,以1oct/min的速率扫频,记录DUT的共振点(加速度幅值突然增大的频率),然后在共振点保持30分钟,观察是否失效——若DUT在共振点出现信号中断,说明其结构刚度不足,需优化设计(如增加PCB板的厚度)。

随机振动则模拟实际路面的复杂振动,用功率谱密度(PSD)定义能量分布——如ISO 16750-3 Class 3的要求是:10-500Hz范围内PSD为0.04g²/Hz,500-2000Hz为0.08g²/Hz,持续时间2小时。随机振动的能量更接近实际工况,能触发疲劳失效(如焊球的循环应力开裂)。例如,某款ADAS摄像头的PCB板,在随机振动测试2小时后,出现图像花屏,拆机发现CMOS传感器的焊球开裂——这是因为随机振动的循环应力导致焊球产生疲劳裂纹,最终断裂。

冲击测试的波形选择与工况对应

冲击测试模拟瞬间高加速度工况,波形选择需匹配实际场景:半正弦波对应车辆碰撞、跌落或路面坑洼的冲击(如ISO 16750-3 Class 3要求半正弦波,脉冲宽度11ms,峰值加速度50g);方波对应硬物体撞击(如车门关闭时的冲击,脉冲宽度2ms,加速度100g);锯齿波对应渐增的力(如重物缓慢落下砸到硬件,脉冲宽度5ms,加速度20g)。

冲击测试的关键是控制脉冲的上升时间与峰值加速度——若上升时间过短,可能导致DUT承受过大的瞬时应力;若峰值加速度不足,则无法触发失效。例如,某款座椅加热控制器的连接器,在半正弦冲击测试(50g,11ms)后出现松动,原因是连接器的插针保持力不足(仅20N,低于设计要求的30N),需更换连接器的弹片材质(从磷青铜改为铍铜)。

测试过程中的实时监测与控制

测试过程需实时监测三大参数:加速度、电性能与温度。加速度监测用传感器反馈DUT的响应,确保与输入谱一致——若DUT的加速度幅值比输入谱高10%以上,需调整振动台的输出,避免过测试。电性能监测用示波器或数据采集卡实时记录DUT的输出信号:如ADAS传感器的图像分辨率、ECU的喷油脉冲宽度。若信号出现间歇性中断,需立即停止测试,记录失效时刻的参数(加速度、频率、温度)。

温度监测同样重要:振动会导致DUT的散热效率下降(如风扇因振动停转),若表面温度超过额定值(如ECU的125℃),需暂停测试,避免热应力叠加振动应力加剧失效。例如,某款发动机舱的ECU在振动测试中,温度从80℃升至130℃,导致电容电解液泄漏,需优化ECU的散热设计(如增加散热片)。

测试后的失效分析与验证

测试结束后,需通过多维度验证定位失效根因。首先是外观检查:用放大镜或显微镜观察DUT的外观——元件有无开裂、连接器有无松动、焊锡有无脱落。例如,某款车机的触控屏失效,外观检查发现触控IC的引脚焊锡脱焊,是因为振动导致焊锡疲劳开裂。

其次是电性能复测:在常温下重新测试DUT的功能——如车机的触控响应速度、传感器的精度,对比测试前的数据。若复测结果正常,说明失效是可逆的(如连接器接触不良);若复测失效,说明是不可逆损伤(如焊球开裂)。

最后是金相分析:对失效部位进行切片(如焊球开裂处),用金相显微镜观察内部结构——如IMC层(金属间化合物)的厚度(正常应在2-5μm)、裂纹的扩展路径。例如,某款摄像头的CMOS传感器焊球开裂,金相分析发现IMC层厚度达8μm,是因为回流焊温度过高(超过260℃)导致,需将回流焊温度降至240℃,将IMC层厚度控制在4μm以内。

测试中的常见问题与解决对策

测试中常见的问题包括:1、夹具共振:若夹具的振动幅值超过DUT的要求,需优化夹具设计(如增加加强筋、改用铝合金),或做模态分析找到共振频率,调整测试频率范围(如避开夹具的共振频率);2、传感器安装误差:若传感器贴在夹具上而非DUT上,测的是夹具的振动,需重新粘贴传感器到DUT的关键部位;3、电加载不足:若DUT未通电或未模拟实际负载,导致失效模式未触发,需调整测试setup,确保DUT处于工作状态;4、测试结果重复性差:若不同实验室的结果不一致,需检查标准执行情况——如振动谱的精度(是否符合ISO 16750-3的±3dB要求)、夹具的一致性(是否用同一套夹具)。

例如,某款ECU在A实验室测试通过,但在B实验室测试失效,经核查发现A实验室的振动谱在500Hz处的PSD为0.07g²/Hz(符合标准的±3dB误差),而B实验室的PSD为0.09g²/Hz(超过误差范围),需调整B实验室的振动台输出,确保谱精度符合要求。

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